
中子成像是一種用于分析樣品結(jié)構(gòu)的非破壞性技術(shù)。其基本原理與X射線照相術(shù)相似:中子束穿過樣品,并根據(jù)樣品的成分或其幾何形狀衰減。
中子成像是一種用于分析樣品結(jié)構(gòu)的非破壞性技術(shù)。其基本原理與X射線照相術(shù)相似:中子束穿過樣品,并根據(jù)樣品的成分或其幾何形狀衰減。
中子照相與X射線成像原理相同,不同的是中子與原子核相互作用,而不是與電子相互作用。然而,與X射線相反,中子還會被一些諸如氫、碳、硼和鋰等輕物質(zhì)衰減,并穿透許多諸如鈦和鉛等重物質(zhì)。這個(gè)特性使得中子成像在二維和三維可視化方面優(yōu)于X射線成像。
直到20世紀(jì)90年代,中子成相的主要探測系統(tǒng)都是以膠片為基礎(chǔ)的,簡稱為中子射線照相術(shù)。探測系統(tǒng)使用X射線膠片和徑跡蝕刻箔轉(zhuǎn)換器。此后,探測方法有了巨大的改進(jìn):引進(jìn)了數(shù)字處理系統(tǒng),并建立了先進(jìn)中子成像束流線。
由于這些創(chuàng)新,也由于與較常見的X射線方法相比不同的衰減對比,已經(jīng)確立了新的和具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用領(lǐng)域: